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一、上海抗干扰介质损耗测试仪*产品概述：

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容器容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容器容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度zui快）体积小、重量轻等特点。

二、上海抗干扰介质损耗测试仪*产品参数：

1、高压输出： 0.5 ～10kV，每一档增加500V，共有20档
高压输出电缆、可拖地使用
45Hz、50Hz、55Hz三种频率
2、容 量： 1500VA
3、准 确 度： tgδ: ±（读数*1.0%+0.08%）
Cx: ±（读数*1.5%+5PF）
4、分 辨 率： tgδ：0.01% Cx：1pF
5、测量范围： 0.1% < tgδ < 50%
3PF< Cx < 60000PF
10KV时，Cx ≤30000PF
5KV时，Cx ≤60000PF
6、电 源： AC 220V士10% 50士1Hz
7、谐波适应： ≤3% 
8、使用条件： -15℃－50℃ 相对湿度<80% 
9、外型尺寸： 460（L）×335（W）×340（H）
10、重 量： 30 kg

三、上海抗干扰介质损耗测试仪*工作原理：

抗干扰介质损耗测试仪测量线路包括一路标准回路和一路测试回路。
标准回路由内置高稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品的电容容值（Cx）和其介质损耗（tgδ）。专业制造商上海胜绪电气有限公司欢迎您来电订购。
数据采集电路全部采用高稳定度器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器的外壳接地屏蔽，另外使用了光导数据，浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，故测量结果稳定、、可靠。
仪器高压变压器的高压侧和测量线路都是浮地的，用户可根据不同的测量对象和测量需要，灵活的采用多种接线方式， 如采用“正接线法"进行测量时，可将“E"点接地，而当采用“反接线法"进行测量时，可将“UH"点接地，而将E点浮空。
图中除测试品Cx外，其余为本仪器，细线框内部分对仪器外壳能承受15KV工频高压5分钟，额定耐压10KV，仪器内附标准电容CN，名义值为50PF，tgδ≤0.0001,耐压10KV高压变压器额定输出功率为1KVA.
★“E"点为仪器的内屏蔽与测量电缆的屏蔽层相连，不是大地与仪器的外壳也不连通！